日本表面檢查燈小王子硅晶片光源檢測

光學系統(tǒng)結構和計算方法，能夠獲得高度線性的測量結果，而不受色彩的影響。
■散射光直接檢測方式
　　15&amp;amp;amp;amp;#176;前向散射光直接檢測方式，減少了樣品粒徑測量值的影響。
日本表面檢查燈小王子硅晶片光源檢測

產(chǎn)品型號：SIS-150
廠商性質：經(jīng)銷商
更新時間：2025-11-01
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日本表面檢查燈小王子硅晶片光源檢測

近紅外鹵素光源

SIS-150 (-NIR/-AIR)
近紅外線照射裝置

這是在近紅外線區(qū)域具有峰值的光纖光源裝置。
通過使用專用光學系統(tǒng)和對近紅外區(qū)域敏感的相機，
它非常適合非破壞性檢查，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。

專用選件
* 可安裝波長選擇帶通濾波器
* 可安裝機械快門
* 可安裝256級數(shù)字調光板
　* 模擬數(shù)字調光板（控制電壓（0-5V））
　* 并聯(lián)調光板（并聯(lián)8-位數(shù)字信號）
　*串行調光板（RS232C串行8位數(shù)字信號）

模型	SIS-150-近紅外	SIS-150-AIR
額定輸入電壓	交流100~240V	交流100~240V
額定輸入頻率	50/60赫茲	50/60赫茲
照明方式	直流照明方式	直流照明方式
光強調節(jié)	輸出電壓可變電壓可變范圍：DC2V～15V 光強度可變范圍：0.1%～100%	輸出電壓可變電壓可變范圍：DC2V～15V 光強度可變范圍：0.1%～100%
保護功能	過流保護電路（重新打開電源即可恢復）過溫保護電路（自動恢復）	過流保護電路（重新打開電源即可恢復）過溫保護電路（自動恢復）
冷卻方式	強制風扇冷卻	強制風扇冷卻
工作溫度/濕度	0℃～40℃/20%～80%RH（無凝露）	0℃～40℃/20%～80%RH（無凝露）
功能	燈斷線信號輸出：集電極開路/發(fā)射極開路模擬信號電壓調光：DC0 至 5V 輸入遠程燈開/關：通過施加 DC5V 關閉	燈斷線信號輸出：集電極開路/發(fā)射極開路模擬信號電壓調光：DC0 至 5V 輸入遠程燈開/關：通過施加 DC5V 關閉
外形尺寸	W124×H165×D224mm（不含突出部分的尺寸）	W124×H165×D224mm（不含突出部分的尺寸）
重量	約2.7公斤	約2.7公斤
照射波長	400～1100nm	400～1700nm
峰值波長	800nm	1000nm
光導	標準規(guī)格	需要專用耐熱光導

專用耐熱光導	SLG-B6-****-UHR（直）	DLG-B6-****-UHR（2 個分支）
捆束直徑（毫米）	φ6	φ6
最小彎曲R(mm)	R40	R40
L尺寸（毫米）	1000	1000
L尺寸（毫米）	2000年	2000年
L尺寸（毫米）	3000	3000

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